Máy đo độ dày vật liệu mỏng X-Prep Vision™

Name: Máy đo độ dày vật liệu mỏng X-Prep Vision™
Brand: Allied High Tech
Price: 0VND VND
Availability: InStock
Rating: 0.00 (0 reviews)

Mã:

N/A

0 đánh giá

Thương hiệu:

Allied High Tech

Bảo hành:

N/A

Giá: Liên hệ

Vui lòng liên hệ để kiểm tra tình trạng kho

Yêu cầu báo giá

Tạm thời chưa có khuyến mãi cho sản phẩm này

Hotline: 0906.988.447

Liên hệ: Hồ Chí Minh

Điện thoại: (028).3977.8269
Email: sales@lidinco.com
Địa chỉ: 487 Cộng Hòa, Phường 15, Quận Tân Bình, TP. HCM

Liên hệ: Bắc Ninh, Hà Nội

Điện thoại: (0222).730.0180
Email: bn@lidinco.com
Địa chỉ: 184 Bình Than, Phường Võ Cường, TP. Bắc Ninh

Tư vấn kĩ thuật Miễn phí
Miễn phí vận chuyển Đơn hàng trên 3 triệu

Thông số kỹ thuật

Dữ liệu đang được cập nhật

Mô tả sản phẩm
Phụ kiện

Giới thiệu tổng quan máy đo độ dày vật liệu trong suốt X-Prep Vision™

X-Prep Vision™ là một công cụ cho phép đo đạt các thông số về độ dày của các vật liệu như chất nền silicon và các chất bán trong suốt. Đây là một thiết bị phân tích cần thiết cho các ứng dụng cần độ mỏng và đồng đều trên các vật liệu có kích thước rất nhỏ

Các vật cố định Adaptor củng được gia cố tăng độ an toàn cho các công đoạn cơ giới hóa trên X-Prep Vision™. Đảm bảo các công cụ đo lường được căn chỉnh khi di chuyển giữ các hệ thống khác nhau

Bộ dữ liệu hơn 130 thông tin về các loại chất nền khác nhau như: GaAs, InGaAs, SiC, Sapphire / Al ₂ O ₃ , InP, SiGe, GaN, photo-resist) được tích hợp trong thiết bị

Phương thức hoạt động máy đo độ dày X-Prep Vision™

Ánh sáng hồng ngoại được tập trung vào mẫu và tín hiệu về chỉ số khúc xạ của mẫu được trả về qua phần mềm phân tích và cho ra tín hiệu độ dày

Đo độ dày dưới 10μm: để đo được độ dày của các vật liệu trong suốt có kích thước nhỏ hơn 10μm tức là ở độ chính xác rất cao nằm ngoài dải đo của máy đo độ dày X-Prep Vision (10μm – 1mm) bạn cần phải lắp quang phổ kế để hỗ trợ quá trình đo

Các đặc điểm nổi bật của máy đo độ dày X-Prep Vision

Chức năng quét đa điểm và đo độ dày tại từng điểm xác định
Cơ giới hóa, tự động hóa X/Y/Z (tự độn focus) tốc độ <1s
Phạm vi đo 10 micron – 1mm phù hợp cho các phép phân tích SEM/TEM (để đo được độ dày có kích thước dới 10 micron cần trang bị thêm quang phổ kế #15-51000)
Loại trừ cạnh với đầu vào X/Y
Khả năng điều hướng bằng phần mềm
Tự động phát hiện cạnh và góc để căn chỉnh lưới đo
Được trang bị tính năng chuyển đổi adaptor
Được tích hợp phần mềm X-Correct độc quyền của Allied High Tech
Độ ghồ ghề tối thiểu 15 micron
Quan sát vật mẫu ở dạng 2D hoặc 3D
Kích thước bàn soi 100mm x 100mm
Cần mua riêng máy ảnh CCD (#15-50020) để có thể quan sát quá trình làm việc nếu không sử dụng máy quang phổ (#15-51000)
Xuất dữ liệu qua các phần mềm tiêu chuẩn của Windows
Tự động hóa phần mềm có thể mở rộng thông qua .NET
Kích thước (355 x 431 x 483 mm)
Bảo hành 1 năm

Multi-point scan and/or single-point silicon (and other single crystal substrates) thickness measurement		10 microns to full thickness (1 mm) range of measurement
Motorized, automatic X/Y and Z (auto-focus) with <1s acquisition time		Automatic edge and corner detection aligns measurement grid with X-Prep™ - including theta correction
Edge exclusion with X/Y input		Stage fitted with X-Prep™ fixture adapter
"Drive to Coordinate" navigation		Viewing of either 2D plot/map or 3D graph
Camera adapter option for adding near IR or IR camera		Visible LED marker aids with navigation and positioning of sample
Supplied with Allied proprietary X-Correct™ software		38 mm x 38 mm X/Y measurement window
Roughness - 15 micron finish		Data export - standard Windows methods
Software automation extendable through .NET One (1) year warranty		Dimensions: 10" W x 12" D x 13" H (250 x 300 x 310 mm)